Effect of the Bulk Charge on the Thermal Noise in Mental-Oxide-Silicon Field-Effect Transistors

C. T. Sah, F. H. Hielscher, S. Y. Wu

研究成果: 雜誌貢獻文章

1 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文英語
頁(從 - 到)509-510
頁數2
期刊IEEE Transactions on Electron Devices
12
發行號9
DOIs
出版狀態已發佈 - 一月 1 1965
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  • Electrical and Electronic Engineering

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